Толстыгин Кирилл Дмитриевич

В работе рассмотрено применение технологии фокусированного ионного пучка, совмещённого со сканирующей электронной микроскопией (FIB-SEM), для исследования субмикронной структуры почвенных агрегатов. Объектом исследования выступил миграционно-мицеллярный чернозём из Центрально-Черноземного заповедника. Сравнительный анализ проводился между изображениями, полученными методами FIB-SEM и рентгеновской компьютерной томографии. В работе изучен вопрос, могут ли исследования с использованием FIB-SEM дополнить исследования, выполненные с применением только компьютерной томографии. FIB-SEM продемонстрировал возможность определения пор радиусом менее 1 мкм, недоступных для томографии, а также выявления органических включений и специфических морфотипов пор (трещиновидные, вытянутые изрезанные), что отражает физико-химические процессы в наномасштабе, то есть масштабе пор в области менее микрона. Однако ограниченное поле зрения и высокая трудоёмкость сегментации снижают репрезентативность метода. Полученные результаты подтверждают применимость FIB-SEM как дополнения к традиционной томографии при изучении структуры почв, открывая перспективы для анализа органического вещества и уточнения механизмов структурообразования на субмикронном уровне.